一种测试薄膜及用于评估薄膜封装性能的治具和测试方法

摘要

本发明公开了一种测试薄膜及用于评估薄膜封装性能的治具和测试方法，其中测试薄膜包括基板，位于基板上从下到上依次设有的导电层、活泼金属层和封装层，其中活泼金属层被封装层全部覆盖，导电层包括未被活泼金属层和封装层覆盖的至少一个引脚；治具包括底座和上盖，还包括载物部件，与测试薄膜形状适配的凹槽一；密封部件、若干个测试探针、开口和线路连接部件。本发明所述的测试薄膜和治具，其结构简单，测试方便，其能够搭配电流源、电压表等测试仪表使用，其测试方法可以实现长时间的监测在一定温度、湿度条件下测试薄膜膜层微电阻的变化的变化，可判断测试薄膜阻隔水气的能力，能够用于准确评估测试薄膜膜层的封装性能，准确度高。