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Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.
Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.
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1.
TSV Stress-Aware ATPG for 3D Stacked ICs
机译:
用于3D堆叠IC的TSV应力感知ATPG
作者:
Deutsch Sergej
;
Chakrabarty Krishnendu
;
Panth Shreepad
;
Lim Sung Kyu
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
2.
An Effective At-Speed Scan Testing Approach Using Multiple-Timing Clock Waveforms
机译:
使用多定时时钟波形的有效的全速扫描测试方法
作者:
Iwata Hiroyuki
;
Maeda Yoichi
;
Matsushima Jun
;
Takakura Masahiro
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
3.
LBIST/ATPG Technologies for On-Demand Digital Logic Testing in Automotive Circuits
机译:
用于汽车电路按需数字逻辑测试的LBIST / ATPG技术
作者:
Meehl Dale
;
Petrakis Bassilios
;
Zhang Ping
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
4.
Portable/Desktop Testing Solution for Engineering with Cloud
机译:
面向云工程的便携式/台式测试解决方案
作者:
Takahashi Nobutaka
;
Watanabe Toshiaki
;
Suzuki Takehisa
;
Kimura Manabu
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
5.
Characteristics Variability Evaluation of Actual LSI Transistors with Nanoprobing
机译:
纳米探测实际LSI晶体管的特性变异性评估
作者:
Fukui Munetoshi
;
Nara Yasuhiko
;
Fuse Junichi
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
6.
F-matrix (ABCD-matrix) Circuit Simulation Built in IC Test Program
机译:
内置IC测试程序的F矩阵(ABCD-matrix)电路仿真
作者:
Okawara Hideo
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
7.
Addressing Test Challenges in Advanced Technology Nodes
机译:
应对先进技术节点中的测试挑战
作者:
Zorian Yervant
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
8.
Spectral Estimation Based Acquisition of Incoherently Under-sampled Periodic Signals: Application to Bandwidth Interleaving
机译:
基于频谱估计的不相干欠采样周期信号的采集:在带宽交织中的应用
作者:
Bhatta Debesh
;
Tzou Nicholas
;
Choi Hyun
;
Chatterjee Abhijit
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
9.
Adaptive Board-Level Functional Fault Diagnosis Using Decision Trees
机译:
使用决策树的自适应板级功能故障诊断
作者:
Ye Fangming
;
Zhang Zhaobo
;
Chakrabarty Krishnendu
;
Gu Xinli
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
10.
Diagnosis of Cell Internal Defects with Multi-cycle Test Patterns
机译:
多周期测试模式对细胞内部缺陷的诊断
作者:
Fan Xiaoxin
;
Sharma Manish
;
Cheng Wu-Tung
;
Reddy Sudhakar M.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
11.
Tutorials
机译:
讲解
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
12.
Keynote Addresses - 2 abstracts
机译:
主题演讲-2篇摘要
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
13.
On-Chip Detection of Process Shift and Process Spread for Silicon Debugging and Model-Hardware Correlation
机译:
用于芯片调试和模型硬件关联的过程转移和过程扩展的片内检测
作者:
Mahfuzul Islam A.K.M.
;
Onodera Hidetoshi
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
14.
Automatic Test Program Generation for Out-of-Order Superscalar Processors
机译:
乱序超标量处理器的自动测试程序生成
作者:
Zhang Ying
;
Rezine Ahmed
;
Eles Petru
;
Peng Zebo
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
15.
Variation-Aware Fault Grading
机译:
变化感知故障分级
作者:
Czutro A.
;
Imhof M.E.
;
Jiang J.
;
Mumtaz A.
;
Sauer M.
;
Becker B.
;
Polian I.
;
Wunderlich H.-J.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
16.
A Hybrid Flow for Memory Failure Bitmap Classification
机译:
内存故障位图分类的混合流
作者:
Li Jianbo
;
Huang Yu
;
Cheng Wu-Tung
;
Schuermyer Chris
;
Xiang Dong
;
Faehn Eric
;
Farrugia Ruth
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
17.
Test Cost Reduction for Performance Yield Recovery by Classification of Multiple-Clock Test Data
机译:
通过多时钟测试数据分类降低测试成本以提高绩效
作者:
Kuo Jun-Hua
;
Hsu Ting-Shuo
;
Liou Jing-Jia
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
18.
NoC Dynamically Reconfigurable as TAM
机译:
NoC可动态重新配置为TAM
作者:
Sbiai Takieddine
;
Namba Kazuteru
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
19.
On-Line Error Detection in Digital Microfluidic Biochips
机译:
数字微流控生物芯片中的在线错误检测
作者:
Mitra Debasis
;
Ghoshal Sarmishtha
;
Rahaman Hafizur
;
Chakrabarty Krishnendu
;
Bhattacharya Bhargab B.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
20.
Functional Pattern Generation for Asynchronous Designs in a Test Processor Environment
机译:
测试处理器环境中用于异步设计的功能模式生成
作者:
Zeidler Steffen
;
Wolf Christoph
;
Krstic Milo
;
Kraemer Rolf
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
21.
Reduced-Complexity Transition-Fault Test Generation for Non-scan Circuits through High-Level Mutant Injection
机译:
通过高级突变注入为非扫描电路降低复杂度的过渡故障测试
作者:
Guarnieri Valerio
;
Fummi Franco
;
Chakrabarty Krishnendu
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
22.
Robust Timing-Aware Test Generation Using Pseudo-Boolean Optimization
机译:
使用伪布尔优化的可靠的时序感知测试生成
作者:
Eggersgluss Stephan
;
Yilmaz Mahmut
;
Chakrabarty Krishnendu
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
23.
A Scan-Out Power Reduction Method for Multi-cycle BIST
机译:
多周期BIST的扫描输出功率降低方法
作者:
Wang Senling
;
Sato Yasuo
;
Miyase Kohei
;
Kajihara Seiji
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
24.
A Test-Per-Clock LFSR Reseeding Algorithm for Concurrent Reduction on Test Sequence Length and Test Data Volume
机译:
一种按时钟测试的LFSR重播算法,用于同时减少测试序列长度和测试数据量
作者:
Lien Wei-Cheng
;
Lee Kuen-Jong
;
Hsieh Tong-Yu
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
25.
A Test Screening Method for 28 nm HK/MG Single-Port and Dual-Port SRAMs Considering with Dynamic Stability and Read/Write Disturb Issues
机译:
考虑动态稳定性和读/写干扰问题的28 nm HK / MG单端口和双端口SRAM的测试筛选方法
作者:
Nii Koji
;
Tsukamoto Yasumasa
;
Ishii Yuichiro
;
Yabuuchi Makoto
;
Fujiwara Hidehiro
;
Okamoto Kazuyoshi
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
26.
Impact of All-Digital PLL on SoC Testing
机译:
全数字PLL对SoC测试的影响
作者:
Nakura Toru
;
Iizuka Tetsuya
;
Asada Kunihiro
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
27.
Session Summary V: Is Component Interconnection Test Enough for Board or System Test
机译:
会话摘要V:组件互连测试是否足以进行板或系统测试
作者:
Gu X.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
28.
Embedded Tutorial Summary: Diagnosis for Accelerating Yield and Failure Analysis
机译:
嵌入式教程摘要:加速良率和故障分析的诊断
作者:
Cheng Wu-Tung
;
Kuo Feng-Ming
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
29.
An Active Test Fixture Approach for Testing 28 Gbps Applications Using a Lower Data Rate ATE System
机译:
一种使用较低数据速率ATE系统测试28 Gbps应用的有源测试夹具方法
作者:
Moreira Jose
;
Roth Bernhard
;
McCowan Callum
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
30.
Programmable Leakage Test and Binning for TSVs
机译:
TSV的可编程泄漏测试和装箱
作者:
Lin Yu-Hsiang
;
Huang Shi-Yu
;
Tsai Kun-Han (Hans)
;
Cheng Wu-Tung
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
31.
Accessing Embedded DfT Instruments with IEEE P1687
机译:
使用IEEE P1687访问嵌入式DfT仪器
作者:
Larsson Erik
;
Zadegan Farrokh Ghani
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
32.
On Utilizing Test Cube Properties to Reduce Test Data Volume Further
机译:
关于利用测试多维数据集属性进一步减少测试数据量
作者:
Lin Xijiang
;
Rajski Jansuz
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
33.
Error Model Free Automatic Design Error Correction of Complex Processors Using Formal Methods
机译:
使用形式化方法对复杂处理器进行无错误模型的自动设计错误校正
作者:
Gharehbaghi Amir Masoud
;
Fujita Masahiro
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
34.
Power Supply Noise Sensor Based on Timing Uncertainty Measurements
机译:
基于时序不确定性测量的电源噪声传感器
作者:
Valka M.
;
Bosio A.
;
Dilillo L.
;
Girard P.
;
Todri A.
;
Virazel A.
;
Debaud P.
;
Guilhot S.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
35.
A New Procedure for Measuring High-Accuracy Probability Density Functions
机译:
测量高精度概率密度函数的新方法
作者:
Yamaguchi Takahiro J.
;
Asada Kunihiro
;
Niitsu Kiichi
;
Abbas Mohamed
;
Komatsu Satoshi
;
Kobayashi Haruo
;
Moreira Jose A.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
36.
Reuse of Structural Volume Test Methods for In-System Testing of Automotive ASICs
机译:
在汽车ASIC的系统内测试中重复使用结构体积测试方法
作者:
Cook Alejandro
;
Ull Dominik
;
Elm Melanie
;
Wunderlich Hans-Joachim
;
Randoll Helmut
;
Dohren Stefan
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
37.
Why and How Controlling Power Consumption during Test: A Survey
机译:
为什么和如何在测试过程中控制功耗:一项调查
作者:
Bosio A.
;
Dilillo L.
;
Girard P.
;
Todri A.
;
Virazel A.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
38.
Linear Programming Formulations for Thermal-Aware Test Scheduling of 3D-Stacked Integrated Circuits
机译:
用于3D堆叠集成电路的热感知测试计划的线性编程公式
作者:
Millican Spencer K.
;
Saluja Kewal K.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
39.
Board-Level Functional Fault Diagnosis Using Learning Based on Incremental Support-Vector Machines
机译:
基于增量支持向量机的学习的板级功能故障诊断
作者:
Ye Fangming
;
Zhang Zhaobo
;
Chakrabarty Krishnendu
;
Gu Xinli
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
40.
Automated Post-Silicon Debugging of Failing Speedpaths
机译:
失败速度路径的自动化硅后调试
作者:
Dehbashi Mehdi
;
Fey Gorschwin
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
41.
SAT-Based Automatic Rectification and Debugging of Combinational Circuits with LUT Insertions
机译:
基于SAT的带有LUT插入的组合电路的自动整流和调试
作者:
Jo Satoshi
;
Matsumoto Takeshi
;
Fujita Masahiro
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
42.
A New Look Ahead Technique for Customized Testing in Digital Microfluidic Biochips
机译:
数字微流控生物芯片中定制测试的新技术
作者:
Roy Pranab
;
Rahaman Hafizur
;
Dasgupta Parthasarthi
;
Bhattacharya Bhargab B.B.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
43.
Invited talks 2 abstracts
机译:
特邀演讲2摘要
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
44.
Efficient Trojan Detection via Calibration of Process Variations
机译:
通过对工艺变化进行校准来进行有效的木马检测
作者:
Cha Byeongju
;
Gupta Sandeep K.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
45.
Scrambling and Data Inversion Techniques for Yield Enhancement of NROM-Based ROMs
机译:
用于基于NROM的ROM的良率提高的加扰和数据反转技术
作者:
Lu Shyue-Kung
;
Li Tsu-Lin
;
Ning Pony
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
46.
A Built-In Characterization Technique for 1-Bit/Stage Pipelined ADC
机译:
1位/级流水线ADC的内置表征技术
作者:
Chou Y.-H.
;
Huang J.-L.
;
Huang X.-L.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
47.
Post-Silicon Jitter Measurements
机译:
硅后抖动测量
作者:
Niitsu Kiichi
;
Yamaguchi Takahiro J.
;
Ishida Masahiro
;
Kobayashi Haruo
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
48.
Session Summary I: Quantum informatics: Classical circuit synthesis, resource optimisation and benchmarking
机译:
会议摘要I:量子信息学:经典电路综合,资源优化和基准测试
作者:
Polian I.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
49.
Counting Gates, Moving Qubits: Evaluating the Execution Cost of Quantum Circuits
机译:
计数门,移动比特数:评估量子电路的执行成本
作者:
Van Meter Rodney
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
50.
Programming a Topological Quantum Computer
机译:
对拓扑量子计算机进行编程
作者:
Devitt Simon
;
Nemoto Kae
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
51.
An Optimization Problem for Topological Quantum Computation
机译:
拓扑量子计算的优化问题
作者:
Yamashita Shigeru
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
52.
Session Summary II: Dependable VLSI for Product Reliability
机译:
会议摘要II:可靠的VLSI产品可靠性
作者:
Gu X.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
53.
Soft Error Issues with Scaling Technologies
机译:
扩展技术的软错误问题
作者:
Baeg Sanghyeon
;
Bae Jongsun
;
Lee Soonyoung
;
Lim Chul Seung
;
Jeon Sang Hoon
;
Nam Hyeonwoo
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
54.
In-Field Testing of NAND Flash Storage: Why and How?
机译:
NAND闪存存储的现场测试:原因和方式?
作者:
Hu Yu
;
Gu Xinli
;
Li Xiaowei
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
55.
A Few Design Techniques for the #x0022;Dependability#x0022; of a SOC
机译:
SOC的“可靠性”的几种设计技术
作者:
Qian Jun
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
56.
Multi-level EDT to Reduce Scan Channels in SoC Designs
机译:
多级EDT可减少SoC设计中的扫描通道
作者:
Li Guoliang
;
Qian Jun
;
Li Peter
;
Zuo Greg
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
57.
Note on Layout-Aware Weighted Probabilistic Bridge Fault Coverage
机译:
关于布局感知加权概率桥故障覆盖率的说明
作者:
Arai Masayuki
;
Shimizu Yoshihiro
;
Iwasaki Kazuhiko
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
58.
Tailoring Tests for Functional Binning of Integrated Circuits
机译:
集成电路功能分区的定制测试
作者:
Sindia Suraj
;
Agrawal Vishwani D.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
59.
A Thermal-Driven Test Application Scheme for 3-Dimensional ICs
机译:
3D IC的热驱动测试应用方案
作者:
Xiang Dong
;
Shen Kele
;
Deng Yangdong
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
|
2012年
60.
A Transition Isolation Scan Cell Design for Low Shift and Capture Power
机译:
低移位和捕获功率的过渡隔离扫描单元设计
作者:
Lin Yi-Tsung
;
Huang Jiun-Lang
;
Wen Xiaoqing
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
61.
A Probabilistic and Constraint Based Approach for Low Power Test Generation
机译:
一种基于概率和约束的低功耗测试生成方法
作者:
Sabaghian-Bidgoli Hossein
;
Namaki-Shoushtari Majid
;
Navabi Zainalabedin
会议名称:
《》
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2012年
62.
Dual Edge Triggered Flip-Flops for Noise Blocking and Application to Signal Delay Detection
机译:
用于噪声阻断的双边触发触发器及其在信号延迟检测中的应用
作者:
Ohkawa Yoshihiro
;
Miura Yukiya
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
63.
Impact of Resistive-Bridge Defects in TAS-MRAM Architectures
机译:
电阻桥缺陷对TAS-MRAM架构的影响
作者:
Azevedo J.
;
Virazel A.
;
Bosio A.
;
Dilillo L.
;
Girard P.
;
Todri A.
;
Prenat G.
;
Alvarez-Herault J.
;
Mackay K.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
64.
SoftPCM: Enhancing Energy Efficiency and Lifetime of Phase Change Memory in Video Applications via Approximate Write
机译:
SoftPCM:通过近似写入提高视频应用中相变存储器的能效和寿命
作者:
Fang Yuntan
;
Li Huawei
;
Li Xiaowei
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
65.
A Generalized Theory for Formal Assertion Coverage
机译:
形式主张覆盖的广义理论
作者:
Das Sourasis
;
Banerjee Ansuman
;
Dasgupta Pallab
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
66.
Hardware-Accelerated Workload Characterization for Power Modeling and Fault Injection
机译:
用于电源建模和故障注入的硬件加速工作负载表征
作者:
Krieg Armin
;
Grinschgl Johannes
;
Steger Christian
;
Weiss Reinhold
;
Bock Holger
;
Haid Josef
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
67.
Scan Test Power Simulation on GPGPUs
机译:
在GPGPU上扫描测试电源仿真
作者:
Holst Stefan
;
Schneider Eric
;
Wunderlich Hans-Joachim
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
68.
Peak Power Estimation: A Case Study on CPU Cores
机译:
峰值功率估计:CPU内核的案例研究
作者:
Bernardi P.
;
De Carvalho M.
;
Sanchez E.
;
Reorda M. Sonza
;
Bosio A.
;
Dilillo L.
;
Girard P.
;
Valka M.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
69.
Low Power BIST for Scan-Shift and Capture Power
机译:
低功耗BIST,用于扫描移位和捕获功率
作者:
Sato Yasuo
;
Wang Senling
;
Kato Takaaki
;
Miyase Kohei
;
Kajihara Seiji
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
70.
Two-Tone Signal Generation for Communication Application ADC Testing
机译:
用于通信应用ADC测试的双音信号生成
作者:
Kato Keisuke
;
Abe Fumitaka
;
Wakabayashi Kazuyuki
;
Gao Chuan
;
Yamada Takafumi
;
Kobayashi Haruo
;
Kobayashi Osamu
;
Niitsu Kiichi
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
71.
Design of a High Bandwidth Interposer for Performance Evaluation of ATE Test Fixtures at the DUT Socket
机译:
用于评估DUT插座ATE测试治具性能的高带宽插入器的设计
作者:
Moreira Jose
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
72.
Session Summary III: Power-Aware Testing: Present and Future
机译:
会议摘要III:功率感知测试:现在和将来
作者:
Wen X.
;
Reddy S.M.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
73.
PowerMAX: Fast Power Analysis during Test
机译:
PowerMAX:测试期间的快速功率分析
作者:
Zhao Wei
;
Tehranipoor Mohammad
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
74.
Current and Future Directions in Automatic Test Pattern Generation for Power Delivery Network Validation
机译:
电力传输网络验证自动测试模式生成的当前和未来方向
作者:
Varma Prab
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
75.
Power Supply Droop and Its Impacts on Structural At-Speed Testing
机译:
电源下垂及其对结构全速测试的影响
作者:
Lin Xijiang
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
76.
Session Summary IV: Post-Silicon Measurements and Tests: Analog Test and High-Speed I/O Test II
机译:
会议摘要IV:硅后测量和测试:模拟测试和高速I / O测试II
作者:
Yamaguchi Takkahiro J.
会议名称:
《Proceedings of the 21st Asian Test Symposium.》
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2012年
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