首页> 中国专利> 一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法

一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法

摘要

本发明涉及一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法,属于光学元器件测量技术领域。本发明针对背面垂直于光轴的离轴抛物面镜,基于激光干涉仪和激光器,利用光的直线传播原理,分别定位离轴抛物面镜机械中心和抛物面镜光轴的位置,通过对两个位置距离的测量,实现对离轴抛物面离轴量的测量。本发明能够实现在一般光学实验室中即可方便有效、高效快速的完成离轴量测量,同时,降低了测量装置的复杂性。

著录项

  • 公开/公告号CN111272083B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN202010211633.2

  • 申请日2020-03-24

  • 分类号G01B11/02(20060101);G01M11/00(20060101);G01M11/02(20060101);

  • 代理机构11639 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张利萍

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2022-08-23 11:32:59

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号