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膜上芯片封装件以及膜上芯片封装件的制造方法

摘要

本发明公开一种膜上芯片封装件以及膜上芯片封装件的制造方法。其中所述膜上芯片封装件包含基底薄膜、图案化电路层、芯片以及加强片。基底薄膜包含第一表面、与第一表面相对的第二表面以及位于第一表面上的安装区域。图案化电路层安置在第一表面上。芯片安装在安装区域上并且电连接到图案化电路层。加强片安置在第一表面和/或第二表面上并且曝露芯片,其中加强片的可挠性大体上等于或大于基底薄膜的可挠性。

著录项

  • 公开/公告号CN109427599B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 联咏科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201810039058.5

  • 发明设计人 黄巧伶;林泰宏;

    申请日2018-01-16

  • 分类号H01L21/56(20060101);H01L23/31(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人陈小雯

  • 地址 中国台湾新竹科学工业园区

  • 入库时间 2022-08-23 11:29:44

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