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公开/公告号CN109461770B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-22
原文格式PDF
申请/专利权人 中山大学;
申请/专利号CN201811184822.4
发明设计人 江灏;邱新嘉;
申请日2018-10-11
分类号H01L29/45(20060101);H01L31/0224(20060101);H01L33/36(20100101);H01S5/042(20060101);
代理机构44271 深圳市惠邦知识产权代理事务所;
代理人满群
地址 510275 广东省广州市海珠区新港西路135号
入库时间 2022-08-23 11:26:07
机译: 低接触电阻的P型III型氮化物欧姆电极结构
机译: p型GaN基半导体中低欧姆接触电阻的Epi结构和形成低欧姆接触电阻的Epi结构的生长方法
机译: P型氮化镓半导体低欧姆接触电阻的形成结构和方法
机译:AlGaN / GaN异质结构上的低接触电阻和表面光滑的Ti / Al / Nb / Au欧姆电极
机译:p型InP的低接触电阻PdZn基欧姆接触的形成机理
机译:使用N面生长的氮化物高电子迁移率晶体管的低非合金欧姆接触电阻
机译:使用闪光灯退火的P型SiGe /金属触点中的低特异性接触电阻率测量及其降低至10 η9欧姆-cm-cm 2 sup>
机译:镍/金和钯/金欧姆接触与清洁的p型氮化镓(0001)表面之间形成的界面的电,化学和结构表征。
机译:用于p型透明电极的三族硫族化物的高通量搜索
机译:测定低电导率介质中的腐蚀电流密度:使用微电极使欧姆降最小化测定低电导率介质中的腐蚀电流密度:使用微电极以使欧姆降最小化
机译:用Zn / pd / au金属化制备p型Gaas的低阻欧姆接触