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一种工作在可见光波段的高带宽CMOS APD光电器件

摘要

本发明请求保护一种工作在可见光波段的高带宽CMOS APD光电器件,属于可见光探测技术领域,包括P衬底,其还包括堆积于所述P衬底上的两个深N阱,所述深N阱上堆积有两个P阱层,在每个P阱层上分别堆积有一个N+层和P+层,将重掺杂的N+层与轻掺杂的P阱层形成PN结,即形成雪崩区,包括第一雪崩区和第二雪崩区,并设置两个光照窗口,当光源射入器件内部被光吸收区吸收时,产生光生载流子,光生载流子在电场作用下运动到第一雪崩区以及第二雪崩区参与倍增;还将所述所述P阱层的间隙两端加入STI保护环。该设计技术从PN结以及耗尽区尺寸两方面进行设计,降低器件的暗电流,提高其带宽。

著录项

  • 公开/公告号CN110197859B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆邮电大学;

    申请/专利号CN201910573499.8

  • 申请日2019-06-28

  • 分类号H01L31/107(20060101);H01L31/0352(20060101);

  • 代理机构50232 重庆启恒腾元专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人赵晨宇

  • 地址 400065 重庆市南岸区崇文路2号

  • 入库时间 2022-08-23 11:23:54

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