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二极管反向恢复时间的测试系统

摘要

二极管反向恢复时间的测试系统,属于电子器件测试领域,其结构包括电源转换部分1、开关电路部分2、脉宽驱动栅极部分3、高压驱动开关部分4、二极管测试部分5和示波器显示部分。电源转换部分连接到开关电源电路部分2和高压驱动开关部分4,所述开关电源电路部分2连接到脉宽驱动栅极部分电路3,脉宽驱动栅极部分电路3连接到高压驱动开关部分电路4,高压驱动开关部分电路4连接到二极管测试部分电路5,二极管测试部分电路5连接到示波器显示部分电路。其特征在于:模拟开关电压可调,从低压值的二极管到上千伏电压的二极管都能测量反向恢复时间。二极管反向恢复时间的测试电路其优点是:性能稳定可靠、操作简单。

著录项

  • 公开/公告号CN106468756B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳艾克思科技有限责任公司;

    申请/专利号CN201510506828.9

  • 发明设计人 胡永宏;

    申请日2015-08-18

  • 分类号G01R31/26(20140101);

  • 代理机构11604 北京睿驰通程知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张文平

  • 地址 518126 广东省深圳市宝安区西乡街道桃源社区航城工业区智汇创新中心B栋605B

  • 入库时间 2022-08-23 11:17:31

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