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一种具有含虚栅的复合栅结构的IGBT芯片

摘要

本发明公开了一种具有含虚栅的复合栅结构的IGBT芯片,包括形成于晶圆基片上的若干复合栅单元,复合栅单元包括栅极区和有源区,栅极区包括第一沟槽栅极、第二沟槽栅极和平面栅极,平面栅极与第一沟槽栅极相连,第二沟槽栅极悬空、接地或与平面栅极相连;有源区包括位于栅极区两侧的沟槽栅有源区和平面栅有源区,其均包括自下而上分布的N阱区、P阱区、P+掺杂区和N+掺杂扩散区。本发明可实现平面栅极和第一沟槽栅极共存于同一芯片,从而大大提升芯片密度,并通过平面栅极和第一沟槽栅极之间的第二沟槽栅极有效屏蔽平面栅极和第一沟槽栅极二者间相互干扰,同时优化复合栅的输入和输出电容,优化芯片开通电流的变化率,降低开关损耗。

著录项

  • 公开/公告号CN108428740B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株洲中车时代电气股份有限公司;

    申请/专利号CN201810148858.0

  • 发明设计人 刘国友;朱春林;朱利恒;

    申请日2018-02-13

  • 分类号H01L29/739(20060101);H01L29/423(20060101);

  • 代理机构11372 北京聿宏知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴大建;陈伟

  • 地址 412001 湖南省株洲市石峰区时代路169号

  • 入库时间 2022-08-23 11:11:54

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