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改善氮化镓基高电子迁移率晶体管栅极肖特基性能的结构

摘要

一种改善氮化镓基高电子迁移率晶体管栅极肖特基性能的结构,包括:一蓝宝石衬底或碳化硅衬底或硅衬底;一高阻氮化镓缓冲层,该高阻氮化镓缓冲层制作在衬底上;一薄层非故意掺杂铝镓氮插入层,该非故意掺杂铝镓氮插入层制作在高阻氮化镓缓冲层上;一高迁移率氮化镓沟道层,该高迁移率氮化镓沟道层制作在非故意掺杂铝镓氮插入层上;一非故意掺杂铝镓氮空间隔离层,该非故意掺杂铝镓氮空间隔离层制作在高迁移率氮化镓沟道层上;一n型掺杂铝镓氮载流子供给层,该n型掺杂铝镓氮载流子供给层制作在非故意掺杂铝镓氮空间隔离层上;一非故意掺杂铝镓氮盖帽层,该非故意掺杂铝镓氮盖帽层制作在n型掺杂铝镓氮载流子供给层上。

著录项

  • 公开/公告号CN100383980C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN200410101891.6

  • 申请日2004-12-30

  • 分类号H01L29/812(20060101);H01L21/338(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人汤保平

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2022-08-23 09:00:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-14

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 29/778 授权公告日:20080423 终止日期:20171230 申请日:20041230

    专利权的终止

  • 2008-04-23

    授权

    授权

  • 2008-04-23

    授权

    授权

  • 2006-08-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-08-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-07-05

    公开

    公开

  • 2006-07-05

    公开

    公开

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