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一种三维封装电路中金丝键合的电容补偿及其设计方法

摘要

本发明公开了一种三维封装电路中金丝键合的电容补偿,包括微波多层电路介质基板,所述微波多层电路介质基板表面第一层传输线上设有电容补偿结构,所述微波多层电路介质基板垂直方向上中间层传输线上设有电容补偿结构,传输线之间通过金丝键合线连接。本发明有效解决了三维封装电路中金丝键合的阻抗匹配问题,充分利用了多层电路的空间,对金丝键合的寄生电感效应进行电容补偿结构设计,尤其是在垂直方向上添加电容补偿结构;与传统方法相比,可以减小仅在表层传输线上进行电容补偿所需的面积。基于本发明的金丝键合电容补偿结构,可以改善多芯片电路中传输线与芯片、传输线和传输线之间的微波传输特性。

著录项

  • 公开/公告号CN107068658B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201710168327.3

  • 发明设计人 朱浩然;倪涛;戴跃飞;

    申请日2017-03-21

  • 分类号H01L23/66(20060101);H01P5/02(20060101);H05K1/16(20060101);

  • 代理机构34124 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人丁瑞瑞

  • 地址 230000 安徽省合肥市合肥高新技术开发区香樟大道199号

  • 入库时间 2022-08-23 10:58:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-19

    授权

    授权

  • 2017-09-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L23/66 申请日:20170321

    实质审查的生效

  • 2017-08-18

    公开

    公开

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