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一种栅氧化层反熔丝PROM存储单元版图结构

摘要

本发明公开了一种栅氧化层反熔丝PROM存储单元版图结构,包括:选择NMOS晶体管,第一存储NMOS晶体管、第二存储NMOS晶体管,衬底接触区域;选择NMOS晶体管包括:第一N注入源区、第一栅、第一N注入漏区、第一接触孔和第二接触孔;第一存储NMOS晶体管包括:第二N注入源区、第二栅、第二N注入漏区和第三接触孔;第二存储NMOS晶体管包括:第三N注入源区、第三栅、第三N注入漏区、第四接触孔;衬底接触区域包括:P注入有源区、第五接触孔和第六接触孔。本发明通过增加并联的存储晶体管,提高了存储单元的编程后等效电阻的一致性,保证了存储单元的可靠性,并通过P型衬底接触,增强了存储单元的抗单粒子闩锁能力。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-19

    授权

    授权

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/112 申请日:20161229

    实质审查的生效

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/112 申请日:20161229

    实质审查的生效

  • 2017-05-31

    公开

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  • 2017-05-31

    公开

    公开

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