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一种用于高压ESD保护的LDMOS-SCR器件

摘要

一种用于高压ESD保护的LDMOS‑SCR器件,属于集成电路静电释放保护电路技术领域。本发明用于高压ESD保护的LDMOS‑SCR器件包括1个LDMOS‑SCR和(n‑1)个与阱电阻并联的VSCR堆叠单元,其中,LDMOS‑SCR的栅电容和堆叠单元中的阱电阻构成一个内嵌的RC通路,可以实现降低LDMOS‑SCR触发电压的目的,而器件的维持电压由1个LDMOS‑SCR器件的维持电压和(n‑1)个VSCR堆叠单元的维持电压共同决定,会随着堆叠VSCR的个数的增加而增加。因此,本发明用于高压ESD保护的LDMOS‑SCR器件在实现高的维持电压的同时,保持了较低的触发电压。

著录项

  • 公开/公告号CN107591401B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201710785508.0

  • 发明设计人 刘志伟;钱玲莉;刘继芝;

    申请日2017-09-04

  • 分类号

  • 代理机构电子科技大学专利中心;

  • 代理人吴姗霖

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 10:42:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-05

    授权

    授权

  • 2018-02-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/105 申请日:20170904

    实质审查的生效

  • 2018-02-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/105 申请日:20170904

    实质审查的生效

  • 2018-01-16

    公开

    公开

  • 2018-01-16

    公开

    公开

  • 2018-01-16

    公开

    公开

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