首页> 中国专利> 一种利用原位溅射结合离子束刻蚀的抛光装置及抛光方法

一种利用原位溅射结合离子束刻蚀的抛光装置及抛光方法

摘要

本发明涉及离子束技术领域,具体涉及一种利用原位溅射结合离子束刻蚀的抛光装置及抛光方法。其包括传递室、刻蚀室、溅射沉积室以及设于传递室与刻蚀室,刻蚀室与溅射沉积室之间的插板阀,传递室、刻蚀室和溅射沉积室内设有三者之间传送工件的工件传送装置。以及应用此设备发明的一种抛光方法,其流程为:首先在传递室装载工件,其次在刻蚀室对工件离子束清洗,再次在溅射沉积室对工件溅射沉积一层薄膜层(牺牲层),进而在刻蚀室对工件进行离子束修正抛光,最后通过传递室取出工件,实现光学元件的抛光。

著录项

  • 公开/公告号CN108385110B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-07-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安工业大学;

    申请/专利号CN201810297952.2

  • 申请日2018-04-04

  • 分类号C23C14/46(20060101);

  • 代理机构61114 西安新思维专利商标事务所有限公司;

  • 代理人黄秦芳

  • 地址 710032 陕西省西安市未央区学府中路2号

  • 入库时间 2022-08-23 10:35:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-12

    授权

    授权

  • 2018-09-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23F 4/00 申请日:20180404

    实质审查的生效

  • 2018-09-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23F 4/00 申请日:20180404

    实质审查的生效

  • 2018-08-10

    公开

    公开

  • 2018-08-10

    公开

    公开

  • 2018-08-10

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号