首页> 中国专利> 一种形成NMOS晶体管装置的锗通道层、NMOS晶体管装置和CMOS装置的方法

一种形成NMOS晶体管装置的锗通道层、NMOS晶体管装置和CMOS装置的方法

摘要

一种形成用于NMOS晶体管装置的锗通道层的方法,该方法包括:a.提供具有侧壁的沟槽,所述侧壁由介电材料结构限定并邻接硅基材的表面;b.在所述表面上的所述沟槽中种植晶种层,所述晶种层具有前表面,所述前表面包含具有(111)取向的分面;c.在所述沟槽中的所述晶种层上种植应变弛豫缓冲层,所述应变弛豫缓冲层包含硅锗;d.在所述应变弛豫缓冲层上种植包含锗(Ge)的通道层;以及相关NMOS晶体管装置和CMOS装置。

著录项

  • 公开/公告号CN105304494B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 IMEC 非营利协会;

    申请/专利号CN201510435539.4

  • 发明设计人 J·米塔德;R·鲁;L·维特斯;

    申请日2015-07-22

  • 分类号

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人余颖

  • 地址 比利时勒芬

  • 入库时间 2022-08-23 10:35:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-28

    授权

    授权

  • 2017-08-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/336 申请日:20150722

    实质审查的生效

  • 2017-08-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/336 申请日:20150722

    实质审查的生效

  • 2016-02-03

    公开

    公开

  • 2016-02-03

    公开

    公开

  • 2016-02-03

    公开

    公开

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