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具有高阻断特性的SiC基穿通型沟槽MOSFET的制作方法

摘要

一种具有高阻断特性的SiC基穿通型沟槽MOSFET的制作方法,所制作的MOSFET具有较高的阻断能力,包括:在SiC第一导电类型的衬底上外延生长多层不同掺杂的SiC外延层形成SiC基片,自下而上为第一导电类型缓冲层、第一导电类型漂移层、第二导电类型体区层、第一导电类型源区层,其中第一导电类型漂移层厚度满足一定穿通条件;形成主沟槽,主沟槽的两个槽角处具有圆弧化,沟槽底部无圆弧化的结构;刻蚀SiC基片形成终端结构;刻蚀SiC基片形成基区沟槽;在主沟槽中形成包括厚底部二氧化硅层、初级栅氧化层、次级栅氧化层三部分的栅氧化层;形成栅电极;在基区沟槽中形成源极金属接触,在SiC衬底的背面形成漏极金属接触,并形成欧姆接触;淀积钝化层并通孔金属互连。

著录项

  • 公开/公告号CN106024902B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 泰科天润半导体科技(北京)有限公司;

    申请/专利号CN201610587157.8

  • 发明设计人 申占伟;张峰;陈彤;

    申请日2016-07-22

  • 分类号

  • 代理机构北京卓孚知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李亚

  • 地址 100192 北京市海淀区清河西小口路66号中关村东升科技园北领地B-1

  • 入库时间 2022-08-23 10:31:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-30

    授权

    授权

  • 2016-11-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20160722

    实质审查的生效

  • 2016-11-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/78 申请日:20160722

    实质审查的生效

  • 2016-10-12

    公开

    公开

  • 2016-10-12

    公开

    公开

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