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用于嵌入式闪存的双控制栅极间隔结构

摘要

本公开涉及一种分离式栅极闪存单元。在一些实施中,分离式栅极闪存单元具有与半导体衬底通过栅极介电层分隔开的选择栅极。控制栅极布置在选择栅极的一侧上。电荷捕获层具有设置在选择栅极和控制栅极之间的垂直部分以及在控制栅极下方延伸的横向部分。第一控制栅极间隔件布置在电荷捕获层的横向部分上且沿着控制栅极的外侧壁连续延伸。第二控制栅极间隔件布置在电荷捕获层的横向部分上且沿着第一控制栅极间隔件的外侧壁延伸。第一和第二控制栅极间隔件的底表面与控制栅极的底表面大致共平面。本发明还提供了一种集成电路(IC)以及形成分离式栅极存储器件的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN106252354B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;

    申请/专利号CN201510768063.6

  • 发明设计人 曾元泰;吴常明;刘世昌;

    申请日2015-11-11

  • 分类号

  • 代理机构北京德恒律治知识产权代理有限公司;

  • 代理人章社杲

  • 地址 中国台湾新竹

  • 入库时间 2022-08-23 10:30:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-23

    授权

    授权

  • 2017-01-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/115 申请日:20151111

    实质审查的生效

  • 2017-01-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/115 申请日:20151111

    实质审查的生效

  • 2016-12-21

    公开

    公开

  • 2016-12-21

    公开

    公开

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