首页> 中国专利> 一种具有双高栅的4H-SiC金属半导体场效应晶体管的制备方法

一种具有双高栅的4H-SiC金属半导体场效应晶体管的制备方法

摘要

本发明属于场效应晶体管技术领域,特别公开了一种具有双高栅的4H‑SiC金属半导体场效应晶体管的制备方法;目的在于提供一种能够提高场效应晶体管的输出电流和击穿电压,改善频率特性的具有双高栅的4H‑SiC金属半导体场效应晶体管的制备方法。采用的技术方案为:对4H‑SiC半绝缘衬底进行清洗;外延生长SiC层并原位掺杂乙硼烷形成P缓冲层;P缓冲层上外延生长SiC层并原位掺杂形成N型沟道层;N型沟道层外延生长SiC层并原位掺杂形成N+帽层;N+帽层上制作隔离区和有源区;制作源电极和漏电极;对源电极和漏电极之间的N+型帽层和沟道进行光刻、刻蚀,形成的双高栅区域;制作栅电极;制作电极压焊点,完成器件的制作。

著录项

  • 公开/公告号CN105870190B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201610256738.3

  • 发明设计人 贾护军;马培苗;杨志辉;柴常春;

    申请日2016-04-22

  • 分类号

  • 代理机构北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郭官厚

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 10:29:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-12

    授权

    授权

  • 2016-10-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20160422

    实质审查的生效

  • 2016-10-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/78 申请日:20160422

    实质审查的生效

  • 2016-08-17

    公开

    公开

  • 2016-08-17

    公开

    公开

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