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双面光刻装置以及双面光刻装置中掩膜与工件的对准方法

摘要

能够在不移动和不转动工件的情况下,将第一掩膜与第二掩膜、第一掩膜以及第二掩膜与工件进行对准。【解决手段】具有使第一掩膜M1可沿xy平面移动的同时沿xy平面转动的第一掩膜台100;以及使第二掩膜M2可沿xy平面移动的同时沿xy平面转动的第二掩膜台200,其中,第二掩膜台200能够在第一掩膜台100上除第一掩膜台100之外沿xy平面移动的同时沿xy平面转动,并且,当第一掩膜台100沿xy平面移动和转动时,随第一掩膜台100一同沿xy平面移动和转。

著录项

  • 公开/公告号CN107436538B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 倍科有限公司;

    申请/专利号CN201611040713.6

  • 发明设计人 河东和彦;屋宜健勇;

    申请日2016-11-24

  • 分类号

  • 代理机构上海德昭知识产权代理有限公司;

  • 代理人郁旦蓉

  • 地址 日本国长野县诹访郡富士见町落合字南原山9984番地1097

  • 入库时间 2022-08-23 10:28:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-12

    授权

    授权

  • 2017-12-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F7/20 申请日:20161124

    实质审查的生效

  • 2017-12-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/20 申请日:20161124

    实质审查的生效

  • 2017-12-05

    公开

    公开

  • 2017-12-05

    公开

    公开

  • 2017-12-05

    公开

    公开

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