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功率晶体管芯片的制作方法及功率晶体管芯片

摘要

本申请公开了一种功率晶体管芯片的制作方法及功率晶体管芯片。其中,该制作方法包括以下步骤:形成半导体基体,半导体基体的正面形成有功率晶体管;在半导体基体的背面形成金属层;在金属层上形成保护膜,以阻隔水汽与金属层接触。该制作方法通过在金属层上形成保护膜,且该保护膜用于阻隔水汽与金属层接触,从而减少了功率晶体管芯片中由于金属层被空气中的水汽氧化而形成的白斑缺陷,进而提高了功率晶体管芯片的性能。

著录项

  • 公开/公告号CN105789108B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201410784914.1

  • 发明设计人 陈彬;阎实;

    申请日2014-12-16

  • 分类号H01L21/71(20060101);H01L27/04(20060101);

  • 代理机构11240 北京康信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人吴贵明;张永明

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

  • 入库时间 2022-08-23 10:25:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-12

    授权

    授权

  • 2016-08-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/71 申请日:20141216

    实质审查的生效

  • 2016-08-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/71 申请日:20141216

    实质审查的生效

  • 2016-07-20

    公开

    公开

  • 2016-07-20

    公开

    公开

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