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一种在Si衬底上制备无裂纹GaN薄膜的方法

摘要

本发明提供一种在Si衬底上制备无裂纹GaN薄膜的方法。先在Si衬底上采用金属有机化学气相外延技术生长高温AlN成核层;然后,依次生长三层其Al组分梯度渐变的应力调控层:第一层为5个周期(30nm)Al

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法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-19

    授权

    授权

  • 2016-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L33/32 申请日:20141125

    实质审查的生效

  • 2016-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 33/32 申请日:20141125

    实质审查的生效

  • 2016-06-22

    公开

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  • 2016-06-22

    公开

    公开

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