首页> 中国专利> 一种半导体封装件及在其上形成半导体接合区的方法

一种半导体封装件及在其上形成半导体接合区的方法

摘要

通过在安装晶片(52,54)之前利用定位焊(点焊)至封装件(12)的片状预制体(14)来减少将半导体晶片(52,54)焊接至电子封装件(12)所需的金量。将仅略大于要附接至封装件(12)的半导体晶片(52,54)的预制体(14)放置在晶片接合位置(16)处,并在两个间隔的位置(18)处将该预制体(14)定位焊(点焊)至封装件(12)。预制体(14)包括金或诸如AuSn或AuGe之类的金合金。

著录项

  • 公开/公告号CN105122436B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美题隆公司;

    申请/专利号CN201480022044.2

  • 发明设计人 拉梅什·科塔达帕尼;

    申请日2014-03-12

  • 分类号

  • 代理机构北京天昊联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人顾丽波

  • 地址 美国俄亥俄州

  • 入库时间 2022-08-23 10:17:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-25

    授权

    授权

  • 2015-12-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/60 申请日:20140312

    实质审查的生效

  • 2015-12-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/60 申请日:20140312

    实质审查的生效

  • 2015-12-02

    公开

    公开

  • 2015-12-02

    公开

    公开

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