基于多残差回归预测算法的电子产品退化趋势预测方法

摘要

本发明公开了一种基于多残差回归预测算法的电子产品退化趋势预测方法，通过对电子产品退化数据特性的充分分析选取最为适宜的初始拟合模型并对残差进行合理建模，最终实现对产品寿命的预测。同时根据历史样本同期预测误差特性的普适度对现场服役样本进行修正，提出一种先加权和后加权两种理论可行的残差回归方法，更好地反映一般情况，最后达到一种高精度的预测，对电子产品的运行状态和预期寿命起到很好地指示作用，成为产品商对设备的维修和报废时间的参考。