首页> 中国专利> 一种应变量子点的制备方法及应变量子点

一种应变量子点的制备方法及应变量子点

摘要

本发明提供一种应变量子点的制备方法及应变量子点。所述制备方法包括以下步骤:在标的材料上形成光刻胶,在所述光刻胶上形成多个注入窗口,进行H+离子或He离子注入,去除所述光刻胶,进行退火处理,使所述标的材料中的H+离子或He离子聚集成H2或He产生气泡凸起,从而得到标的材料的应变量子点。本发明的方法新颖,制备过程简单,可操作性强,应变量可观、可调;制备过程可控性强,注入窗口的大小、形状、间距,H+离子或He离子注入的能量、剂量,退火温度、时间等工艺参数均可调;且方法可用范围广,晶体材料均可使用该方法制备应变量子点。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-24

    授权

    授权

  • 2018-06-29

    专利申请权的转移 IPC(主分类):H01L21/265 登记生效日:20180608 变更前: 变更后: 申请日:20160622

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-10-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/265 申请日:20160622

    实质审查的生效

  • 2016-09-28

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号