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晶圆级电容式加速度计自动测试系统

摘要

本发明公开晶圆级电容式加速度计自动测试系统,包括微处理器以及与微处理器相连的上位机,四个电容数字转换器、第一数模转换器、第二数模转换器、第一继电器与第二继电器;微处理器控制数模转换器与继电器,向电容式加速度计的其中两个固定电极上在不同时刻分别施加直流电压,产生静电力,模拟外界加速度,所述四个电容数字转换器由微处理器控制,并向微处理器发送所采集不同时刻的电容式加速度计的电容值,再由微处理器计算得出电容变化量,实现参数测试的目的,并判断出电容式加速度计的品质。

著录项

  • 公开/公告号CN105259372B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华东光电集成器件研究所;

    申请/专利号CN201510664521.1

  • 发明设计人 田波;方岚;焦贵忠;谢斌;郑宇;

    申请日2015-10-14

  • 分类号

  • 代理机构安徽省蚌埠博源专利商标事务所;

  • 代理人杨晋弘

  • 地址 233042 安徽省蚌埠市经济开发区财院路10号

  • 入库时间 2022-08-23 10:14:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-10

    授权

    授权

  • 2016-02-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01P21/00 申请日:20151014

    实质审查的生效

  • 2016-01-20

    公开

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