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一种基于同步辐射的晶体几何必需位错自动化分析方法

摘要

本发明涉及一种基于同步辐射的晶体几何必需位错自动化分析方法,包括以下步骤:步骤一:通过图谱处理从原始图谱中获得二值化图谱、衍射斑标定信息及晶体取向信息;步骤二:通过晶体学理论建立位错字典,建立设备模型并结合衍射斑标定信息及晶体取向信息对拉长方向进行模拟,得到备选拉长方向;步骤三:使用二值化图谱、衍射斑标定信息及晶体取向信息通过利用衍射图谱的图形计算法、利用衍射斑位置的位置计算法及利用晶体取向的转动矩阵法计算衍射斑拉长或劈裂方向及拉长衍射斑顶点;步骤四:通过拉长衍射斑顶点及劈裂衍射斑标定信息计算衍射斑拉长或劈裂角度;步骤五:根据模拟产生备选拉长方向、计算产生的拉长或劈裂方向及拉长或劈裂角度,对衍射斑拉长及劈裂进行识别与匹配。

著录项

  • 公开/公告号CN106055899B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安交通大学;

    申请/专利号CN201610382895.9

  • 发明设计人 陈凯;朱文欣;沈昊;

    申请日2016-06-01

  • 分类号G06F19/00(20180101);

  • 代理机构61215 西安智大知识产权代理事务所;

  • 代理人何会侠

  • 地址 710049 陕西省西安市咸宁路28号

  • 入库时间 2022-08-23 10:13:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-03

    授权

    授权

  • 2016-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F19/00 申请日:20160601

    实质审查的生效

  • 2016-10-26

    公开

    公开

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