Brigham Young University;
机译:使用基于EBSD的连续位错显微镜将几何上必要的位错密度解析为单个位错类型
机译:基于EBSD的连续性脱位显微镜
机译:长度刻度对通过EBSD连续位错显微镜确定几何必要位错的影响
机译:基于EBSD的位错显微镜对全张量的估计
机译:锆石英-2中应变率敏感性,塑性各向异性和位错含量的表征
机译:使用FCC Al中位错四极子的周期性阵列说明位错的构造和运行位错动力学的数据集
机译:基于EBsD的高分辨率位错显微镜
机译:用透射电子显微镜表征外部晶界位错和晶界位错源。最终报告,1979年6月1日至1981年5月31日