半导体存储器件及其多位并行测试方法

摘要

一种半导体存储器件及进行多位并行测试的方法，所述存储器件包含用于读出存储器单元组数据的读出电路；接在数据读出电路和数据总线对之间的驱动器，连接在读出电路和相应数据总线对之间的第一比较器，其输入接到数据总线对而输出可与数据输出缓冲器连接的第二比较器，以及数据选择装置。在正常模式下数据读出电路将来自存储器单元组的多个数据对通过驱动器位送给数据总线对，而在测试模式下数据读出电路将多个数据对送至第一比较器。