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降低硅或绝缘体上的硅材料光波导损耗的方法

摘要

本发明提出了一种降低硅光波导,或基于绝缘体上的硅材料光波导损耗的方法,其特征在于:首先通过氢气气氛中的高温烘烤,改善硅光波导或SOI光波导的波导表面状况,显著抑止光在波导结构中传输时的散射损耗,实现光波导传输损耗的降低;然后再利用离子束辅助沉积技术,在波导的输入、输出端面沉积氧化铪增透膜,降低光耦合出入光波导的菲涅耳反射损耗;关键的技术途径为:(1)将制备的硅光波导或SOI光波导置于氢气气氛中,在800~1300℃的温度范围内烘烤10分钟~20小时;(2)利用离子束辅助沉积技术,在硅光波导或SOI光波导的输入和输出端面均匀沉积一层厚度为150~210nm的氧化铪增透膜,沉积速率0.1~0.8nm/s,材料折射率控制在1.82~1.95。

著录项

  • 公开/公告号CN1277135C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2006-09-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海新傲科技有限公司;

    申请/专利号CN200410016630.4

  • 申请日2004-02-27

  • 分类号

  • 代理机构上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人潘振甦

  • 地址 201821 上海市嘉定区普惠路200号

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-04-16

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G02B 6/10 授权公告日:20060927 终止日期:20130227 申请日:20040227

    专利权的终止

  • 2010-04-21

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G02B 6/10 变更前: 变更后: 申请日:20040227

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2006-09-27

    授权

    授权

  • 2005-03-09

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-01-05

    公开

    公开

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