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用于晶圆级感测元件的自我测试系统及其方法

摘要

本发明是有关于一种用于晶圆级感测元件的自我测试系统及其方法。自我测试系统包含晶圆级感测元件及测试模块。晶圆级感测元件包含固定单元及可动单元,其中固定单元与可动单元之间形成感应电容。测试模块用以电性连接晶圆级感测元件,且测试模块包含测试电路,用以量测感应电容。其中,晶圆级感测元件用以接收输入信号,使感应电容产生电容值变化量,而测试电路则根据电容值变化量,输出测试信号。

著录项

  • 公开/公告号CN103792504B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-11-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 京元电子股份有限公司;

    申请/专利号CN201210428131.0

  • 发明设计人 邱东梁;叶人荣;

    申请日2012-10-31

  • 分类号

  • 代理机构北京中原华和知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人寿宁

  • 地址 中国台湾新竹市公道五路二段81号

  • 入库时间 2022-08-23 10:02:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-10

    授权

    授权

  • 2014-06-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 35/00 申请日:20121031

    实质审查的生效

  • 2014-06-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 35/00 申请日:20121031

    实质审查的生效

  • 2014-05-14

    公开

    公开

  • 2014-05-14

    公开

    公开

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