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p型氮化镓为主的三族氮化物半导体薄膜的薄膜溅镀过程

摘要

本发明提供一种p型氮化镓为主的三族氮化物半导体薄膜的薄膜溅镀过程,此技术所使用的靶材,其组成以氮化镓为主,另外还包含两种以上的金属组成,利用改变靶材组成,掺杂铜、镁、锌等金属,可以溅镀出p型氮化镓、氮化铝镓、氮化铟镓等半导体薄膜。靶材组成设计是主要关键,其中金属组成除了要考虑材料性质外,还需考量靶材致密化能力与金属合金化的能力,如此才能制作出p型氮化镓为主相的半导体薄膜。此类溅镀过程所得薄膜,可部分取代传统MOCVD制造LED所需以氮化镓为主相的三族氮化物薄膜,也可应用于需要三族氮化物的薄膜电子元件。

著录项

  • 公开/公告号CN104241101B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-09-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 郭东昊;

    申请/专利号CN201410192857.8

  • 发明设计人 郭东昊;李成哲;

    申请日2014-05-08

  • 分类号

  • 代理机构北京同立钧成知识产权代理有限公司;

  • 代理人臧建明

  • 地址 中国台湾台北市大安区基隆路4段43号

  • 入库时间 2022-08-23 09:59:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-09-05

    授权

    授权

  • 2015-01-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/203 申请日:20140508

    实质审查的生效

  • 2015-01-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/203 申请日:20140508

    实质审查的生效

  • 2014-12-24

    公开

    公开

  • 2014-12-24

    公开

    公开

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