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集成MOS器件的CMOS湿度传感器形成方法

摘要

一种集成MOS器件CMOS湿度传感器形成方法,其中集成MOS器件CMOS湿度传感器的形成方法包括:利用MOS器件中的子金属互连层的形成工艺形成湿度传感器的下电极层、第一金属互连层、第一电连接层、第二电连接层以及上电极层;然后采用兼容标准CMOS工艺中的刻蚀工艺、各向同性刻蚀工艺,在传感器区形成环形凹槽以及隔热区域,在传感器区形成相互贯穿的通孔以及沟槽;然后形成填充满通孔和沟槽的湿敏材料层。本发明湿度传感器的形成工艺与MOS器件的形成工艺完全兼容,将湿度传感器和MOS器件集成在同一芯片上,缩小了芯片面积,降低了功耗,提高了集成度和产量。

著录项

  • 公开/公告号CN105366636B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江西师范大学;

    申请/专利号CN201510873922.8

  • 发明设计人 袁彩雷;俞挺;骆兴芳;

    申请日2015-02-09

  • 分类号

  • 代理机构上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人孙佳胤

  • 地址 330022 江西省南昌市紫阳大道99号

  • 入库时间 2022-08-23 09:54:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-22

    授权

    授权

  • 2016-03-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):B81C 1/00 申请日:20150209

    实质审查的生效

  • 2016-03-02

    公开

    公开

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