一种光谱发射率的稳态测试系统与方法

摘要

本发明公开一种光谱发射率的稳态测试系统及方法，该系统包括：样品加热单元，用于对样品进行热辐射加热，所述样品为具有漫射表面的不透明材料；光谱辐射能量测量单元，用于对样品表面的多光谱有效辐射能量进行测量；光谱发射率反演单元，用于根据多光谱有效辐射能量反演样品的光谱发射率与温度。相比于光谱发射率直接测量法，本发明提供的方法无需参考黑体源，并克服了对高温样品温度进行准确测量的依赖性；相比于基于发射率模型的光谱发射率测量方法，本发明提供的方法不依赖于光谱发射率建设模型，克服了发射率假设模型给应用带来的局限性问题。