法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-03-23
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11C 29/00 授权公告日:20050713 终止日期:20090914 申请日:19980814
专利权的终止
2005-07-13
授权
授权
2000-11-15
实质审查请求的生效
实质审查请求的生效
1999-02-24
公开
公开
机译: 半导体组件测试方法,其中对组件进行一系列测试,其中一个测试的结果用于修改或取消下一个测试
机译: 半导体组件---测试设备,特别是数据-中间存储器-具有半导体组件的组件---测试设备,以及半导体-组件-测试-方法
机译: 半导体-具有至少一个齐纳二极管和至少一个肖特基二极管的组件并联连接至该半导体组件以及制造该半导体组件的方法-