公开/公告号CN102568612B
专利类型发明专利
公开/公告日2016-08-24
原文格式PDF
申请/专利权人 海力士半导体有限公司;
申请/专利号CN201110454048.6
申请日2011-12-30
分类号
代理机构北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人郭放
地址 韩国京畿道
入库时间 2022-08-23 09:45:22
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-08-24
授权
授权
2014-02-05
实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20111230
实质审查的生效
2012-07-11
公开
公开
机译: 能够确定存储单元正常性的半导体存储器件的并行测试电路和并行测试方法
机译: 半导体存储器件,测试电路和测试方法
机译: 用于半导体存储器件的测试电路和测试方法