一种半导体器件研发用半导体检测设备

摘要

本实用新型公开了一种半导体器件研发用半导体检测设备，包括外壳、散热器、底座和安装座，所述外壳一侧设置有显示板，且显示板一侧的外壳上设置有控制板，所述外壳一侧分离安装有底座，所述底座顶部边缘设置有限位槽，所述第一电动推杆端部安装有承重板，所述限位槽内卡接安装有安装框，所述安装框内安装有绝缘网，且绝缘网上设置有观察窗。本实用新型通过在限位槽内安装有安装框，通过在对半导体进行检测时，将安装框安装在限位槽内，使绝缘网对电流进行阻隔，之后进行检测工作，通过观察窗可对半导体进行观察，避免工作人员操作失误，导致被电流伤害的问题，有效地提高了该设备对于工作人员的保护性。