用于X射线成像中的散射校正的方法和系统

摘要

本发明的名称为：“用于X射线成像中的散射校正的方法和系统”。公开用于使用散射X射线的反向跟踪来得出散射信息的方式。在某些实施例中，与从源进行到探测器的跟踪方案相反，跟踪从探测器上的相应位置到X射线辐射源的散射射线。在一种这样的方式中，反向跟踪使用密度积分容积来实现，这减少所执行的积分步骤。