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用于X射线图像中的散射校正的设备和用于X射线图像中的散射校正的方法

摘要

本发明涉及一种用于X射线图像中的散射校正的设备,所述X射线图像(30、40)具有叠加的结构化图案,所述设备(1)包括:X射线图像接收元件(10);图案去除器(11);以及第一减法模块(12);其中,所述X射线图像接收元件(10)被配置为接收包括叠加的结构化图案(31)的X射线图像(30、40);其中,所述图案去除器(11)被配置为从所述X射线图像(30、40)去除所述结构化图案(31),得到经图案校正的X射线图像(43);其中,所述第一减法模块(12)被配置为从所述X射线图像(40)中减去所述经图案校正的X射线图像(33、43),得到结构化图案图像(32、42);并且其中,对比度测量单元(13)被配置为将局部结构对比度测量函数应用于所述结构化图案图像(32、42),得到结构对比度图像(34、44)。本发明改善了X射线图像的散射校正。

著录项

  • 公开/公告号CN109803585A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 皇家飞利浦有限公司;

    申请/专利号CN201880003887.6

  • 发明设计人 H-I·马克;

    申请日2018-07-09

  • 分类号

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人王英

  • 地址 荷兰艾恩德霍芬

  • 入库时间 2024-02-19 10:24:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/00 申请日:20180709

    实质审查的生效

  • 2019-05-24

    公开

    公开

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