公开/公告号CN103236396B
专利类型发明专利
公开/公告日2016-07-06
原文格式PDF
申请/专利权人 中国电子科技集团公司第十一研究所;
申请/专利号CN201310131975.3
申请日2013-04-16
分类号H01L21/02(20060101);
代理机构11010 工业和信息化部电子专利中心;
代理人齐洁茹
地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路4号
入库时间 2022-08-23 09:42:47
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-07-06
授权
授权
2013-09-04
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/02 申请日:20130416
实质审查的生效
2013-08-07
公开
公开
机译: GaN晶体,GaN晶体衬底,GaN晶体衬底和具有外延层的半导体器件的表面处理方法,以及GaN晶体衬底和具有外延层的半导体器件的制造方法
机译: III族氮化物晶体膜,III族氮化物晶体衬底,具有外延层的III族氮化物晶体衬底以及半导体器件的表面处理方法
机译: III族氮化物晶体膜,III族氮化物晶体衬底,具有外延层的III族氮化物晶体衬底和半导体器件的表面处理方法