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一种多级可调的椭偏测厚仪

摘要

一种多级可调的椭偏测厚仪,包括底座、试验台、激光器套筒、激光器、起偏器和检偏器,底座上设置试验台,试验台的一端开设两道平行的滑槽,激光器套筒的下部为固定座,上部为圆柱套筒,激光器套筒的固定座两侧开设螺纹孔,激光器套筒通过螺钉连接在试验台的滑槽上,试验台与激光器套筒的固定座之间垫有橡胶垫圈,激光器固定在激光器套筒上部的圆柱套筒内,激光器的出光口设置有光栅,光栅的出光一侧设有补偿器,本实用新型的起偏器的入射角度可通过齿轮组合调节,检偏器通过可旋转的立板和顶板调节角度,使得检偏器不仅可以平行于起偏器,检测播磨边缘部分的厚度,还可以垂直于起偏器,反射式测量法检测播磨的情况。

著录项

  • 公开/公告号CN210293125U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-04-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津良益科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201920864024.X

  • 发明设计人 李让峰;

    申请日2019-06-11

  • 分类号

  • 代理机构天津市新天方专利代理有限责任公司;

  • 代理人张强

  • 地址 300350 天津市津南区滨海民营经济成长示范基地创意中心A座12B-117号

  • 入库时间 2022-08-22 13:13:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-10

    授权

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