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张俊莲; 黄佐华; 朱映彬;
华南师范大学,物理与电信工程学院,广东,广州,510006;
椭偏测厚仪; 真实厚度; 最大可测周期数; 图形表示;
机译:通过椭偏测量确定弯曲基板上的薄膜厚度
机译:根据椭偏数据确定硅上透明多层薄膜的厚度和折射率计算机程序说明
机译:TiO2-SiO2薄膜的密度,厚度和组成的X射线反射法,椭偏仪和电子探针显微分析耦合
机译:椭偏法可正确确定薄膜的空隙率和真实折射率
机译:Ag和ZnO薄膜及其界面在薄膜光伏中的光谱椭偏分析研究。
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:用于生物传感和(光电)电子应用的纳米颗粒结构和薄膜的椭偏模型=用于生物和(光电)电子应用的纳米颗粒结构和薄膜的椭偏模型
机译:椭偏法同时测定极薄膜的折射率和厚度
机译:椭偏分析仪,样品椭偏分析方法和薄膜厚度变化量测量
机译:椭偏分析仪,椭偏分析仪,用于测量样品,测量薄层厚度变化的方法。
机译:椭偏分析设备,样本椭偏分析方法,以及用于测量薄层厚度变化的设备
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