机译:根据椭偏数据确定硅上透明多层薄膜的厚度和折射率计算机程序说明
Queen's University of Belfast, Department of Electrical & Electronic Engineering, Belfast, UK;
electronics applications of computers; elemental semiconductors; ellipsometry; insulating thin films; refractive index; semiconductor devices; silicon; thickness measurement; Fortran IV; computer program; ellipsometric data; thickness; thin transparent multilayer films;
机译:具有薄膜多层结构的透明椭偏存储器基于椭偏原理的光学存储器
机译:具有双轴对称性的薄膜的折射率测量。 2.使用透明波长范围内的偏振透射光谱确定膜的厚度和折射率
机译:具有双轴对称性的薄膜的折射率测量。 2.使用透明波长范围内的偏振透射光谱确定膜的厚度和折射率
机译:椭圆型测定薄膜厚度和光学常数测定的比较
机译:硅晶片上溅射的硅化钨/硅多层薄膜的原位曲率和应力分析。
机译:优质透明导电银基锡酸钡多层柔性薄膜
机译:硅光电转换器表面抗反射薄膜TiO 2和Si₃N3的折射率色散和厚度的测定
机译:椭偏法测定薄硒化物薄膜的折射率。