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一种新型的测试探针和指状测试器

摘要

本实用新型公开了一种新型的测试探针,用在指状测试器上,用于测试电路板,所述测试探针具有带测试尖端的测试针,所述测试针通过两对弹性定位臂而枢转接合于座架;其中至少一对弹性定位臂由导电材料制成,并电连接所述测试针;每对弹性定位臂设置在一个平面内,一端固定在所述测试针上,另一端固定在座架上;所述座架下端设一固定板,所述固定板的前端设一开口,所述测试针穿过所述开口,所述测试针上套设一弹簧,所述弹簧的下端焊接固定在所述测试针上,所述弹簧的上端抵顶在所述固定板上;测试过程中,当所述测试针被顶起时,所述弹簧进入压缩状态。该测试探针通过加装弹簧,增加了压力和稳定性,提高了持久性,延长了使用寿命。

著录项

  • 公开/公告号CN207937488U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-10-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深南电路股份有限公司;

    申请/专利号CN201721872646.4

  • 发明设计人 金章;

    申请日2017-12-27

  • 分类号

  • 代理机构深圳市深软翰琪知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐翀

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区侨城东路99号

  • 入库时间 2022-08-22 06:33:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-02

    授权

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