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一种AlN外延层以及AlGaN光电器件

摘要

一种AlN外延层以及AlGaN光电器件,涉及半导体外延技术领域,该AlN外延层依次包括蓝宝石衬底、N极性隔绝层、成核层、缺陷修复层和快速沉积层。N极性隔绝层在较低温度下沉积得到,可以防止形成N极性AlN,以形成单一的Al极性。成核层的沉积温度略有提高,使得Al原子的表面迁移能力提高,以提高成核层质量。缺陷修复层在较高温度下沉积得到,其可以保证应变释放和位错湮灭,并降低点缺陷浓度。快速沉积层则是在高温下沉积得到,高温利于保持Al原子的高迁移能力,生长效率高。该AlN外延层表面平整、没有表面缺陷、极性单一、位错密度低。该AlGaN光电器件是在上述AlN上继续生长得到,其表面平整、没有表面缺陷、位错密度低。

著录项

  • 公开/公告号CN207818524U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-09-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广东省半导体产业技术研究院;

    申请/专利号CN201721046000.0

  • 申请日2017-08-18

  • 分类号H01L21/02(20060101);H01L33/02(20100101);H01L31/0304(20060101);H01L31/0352(20060101);

  • 代理机构11371 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人钱学宇

  • 地址 510000 广东省广州市天河区长兴路363号

  • 入库时间 2022-08-22 06:14:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-04

    授权

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