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双面光刻机及双面光刻方法

摘要

本发明公开了一种双面光刻机,在同一腔体中包括互为镜像对称的第一激光光路和第二激光光路,载片台为夹式结构,第一激光光路和第二激光光路分别用于对晶圆的正面和背面曝光。本发明还公开了一种双面光刻方法。本发明能够实现在同一腔体中进行双面露光,且双面曝光过程中,晶圆的X和Y方向的位置相同,仅需改变晶圆的Z方向的位置,从而能够避免X和Y方向的镜像误差并提高光刻的套刻精度,实现光刻工艺的精度改善。

著录项

  • 公开/公告号CN103913955B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-06-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201310003776.4

  • 发明设计人 刘金磊;陈志刚;陈卢佳;

    申请日2013-01-06

  • 分类号G03F7/20(20060101);

  • 代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人丁纪铁

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2022-08-23 09:41:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-08

    授权

    授权

  • 2014-08-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/20 申请日:20130106

    实质审查的生效

  • 2014-07-09

    公开

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