首页> 中国专利> 一种利用常规天平测陶瓷体积密度的装置

一种利用常规天平测陶瓷体积密度的装置

摘要

本实用新型涉及陶瓷技术领域,具体涉及一种利用常规天平测陶瓷体积密度的装置,包括支撑架、常规天平、悬挂横杆、挂钩、托盘和浸样桶。其中支撑架用于放置常规天平,悬挂横杆两端分别系两条绳,两绳交汇于挂钩处,托盘挂在挂钩上,浸样桶位于托盘的正下方。测量时,在浸样桶中加入适量水使托盘完全浸没,悬挂横杆连接的两绳不要触碰到支撑架,托盘不要触碰到浸样桶内壁。本实用新型利用常规天平,不必拆装任何零件,仅需自制横杆和托盘即可测量陶瓷样在水中的质量,经体积密度公式可方便获得体积密度值,在实验室和科研领域有着非常实用的效果。

著录项

  • 公开/公告号CN207114362U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 河北高富氮化硅材料有限公司;

    申请/专利号CN201720995362.8

  • 发明设计人 张红冉;刘久明;吴诚;

    申请日2017-08-10

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 054300 河北省邢台市临城县经济开发区中兴大街北段路西

  • 入库时间 2022-08-22 04:16:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-16

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号