法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-04-20
授权
授权
2014-03-12
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20130927
实质审查的生效
2014-02-05
公开
公开
机译: 用于确定光散射表面的表面粗糙度的光学三角测量方法,涉及使用非相干光源进行表面粗糙度测量
机译: 半导体纳米线的光学特性测量平台和采用相同方法的半导体纳米线的光学特性测量方法
机译: 整体式散射光测量仪,优选。用于确定表面粗糙度参数-具有内置的光度计,该光度计包含检测器,用于确定各个角度段中角度分解的散射光源的部分