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目录
1 绪 论
1.1 课题概述
1.2半导体纳米结构测量技术研究现状及发展趋势
1.3 本文主要研究工作
2 纳米结构几何形貌识别方法
2.1 引言
2.2基于支持向量机的纳米结构几何形貌识别方法
2.3典型纳米结构几何形貌识别仿真分析
2.4 本章小结
3基于非线性回归的纳米结构几何形貌重构方法
3.1引言
3.2传统非线性回归方法
3.3基于数据约化的非线性回归方法
3.4基于鲁棒统计的非线性回归方法
3.5本章小节
4基于库匹配的纳米结构几何形貌重构方法
4.1引言
4.2传统库匹配方法
4.3快速光谱库搜索算法
4.4基于数据约化的参数修正方法
4.5基于鲁棒统计的参数修正方法
4.6 典型纳米结构参数提取仿真
4.7本章小结
5测量不确定度评估
5.1引言
5.2基于正态统计分布假设的测量不确定度评估方法
5.3鲁棒测量不确定度评估方法
5.4典型纳米结构测量不确定度评估仿真分析
5.5本章小结
6基于光学散射仪的典型纳米结构测量实验研究
6.1引言
6.2广义椭偏仪测量设备及实验过程简介
6.3基于支持向量机的纳米结构几何形貌识别实验研究
6.4典型纳米结构形貌参数鲁棒提取实验研究
6.5典型纳米结构测量不确定度评估实验研究
6.6本章小结
7 总结与展望
7.1 全文总结
7.2 研究展望
致谢
参考文献
附录1 攻读学位期间发表的学术论文
附录2 攻读学位期间申请的国际、国家发明专利
附录3 攻读学位期间参会经历和所获奖项