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目录
1 绪论
1.1 课题概述
1.2 光学散射测量技术研究现状及发展趋势
1.3 本文主要研究工作
2 光学散射测量中的纳米结构灵敏度特性分析
2.1 引言
2.2 光学散射测量典型仪器
2.3 光学散射测量理论算法
2.4 典型纳米结构的灵敏度变化特性分析
2.5 本章小结
3 基于局部灵敏度分析的测量条件配置优化方法
3.1 引言
3.2 基于局部灵敏度分析的测量条件配置优化
3.3 单个纳米结构的测量配置优化仿真分析
3.4 典型纳米结构的测量实验研究
3.5 本章小结
4 基于全局灵敏度分析的测量条件配置优化方法
4.1 引言
4.2 基于全局灵敏度分析的测量条件配置优化
4.3 批量纳米结构的测量配置优化仿真分析
4.4 典型纳米结构的测量实验研究
4.5 本章小结
5 基于线性相关分析的测量条件配置优化方法
5.1 引言
5.2 基于线性相关分析的测量条件配置优化
5.3 纳米结构测量配置优化的仿真分析
5.4 典型纳米结构的测量实验研究
5.5 本章小结
6 总结与展望
6.1 全文总结
6.2 研究展望
参考文献
致谢
附录1 攻读学位期间发表的学术论文
附录2 攻读学位期间申请的国家发明专利