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微全分析系统非接触电导与荧光检测装置

摘要

本实用新型涉及一种分析仪器,具体涉及在同点同时进行非接触电导与荧光检测的微全分析系统的检测装置。在芯片的分离通道旁设置两个非接触电导电极,向其中一个检测电极输入高频信号,在另一个电极检测微通道内的溶液在两检测电极间区域的高频电导信号。荧光检测的激发光源使用发光二极管,其入射光对准微通道在两个非接触电导电极之间的区域,通过检光元件检测荧光信号。本实用新型的优点在于可实现在同点同时进行荧光检测和电导检测,获得多种信息。

著录项

  • 公开/公告号CN201016979Y

    专利类型

  • 公开/公告日2008-02-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中山大学;

    申请/专利号CN200720047999.0

  • 发明设计人 陈缵光;刘翠;李偶连;蓝悠;

    申请日2007-01-30

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 510275 广东省广州市新港西路135号

  • 入库时间 2022-08-21 22:57:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-04-20

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N35/00 授权公告日:20080206 终止日期:20100130 申请日:20070130

    专利权的终止

  • 2008-02-06

    授权

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