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具有台阶型栅氧化层的射频SOI功率NMOSFET

摘要

本实用新型涉及一种具有台阶型栅氧化层的射频SOI功率NMOSFET及其制造方法,是在P型SOI衬底上制造射频SOI功率NMOSFET,其特点是具有台阶型栅氧化层,其结构自下而上依次为:P型硅衬底层1、二氧化硅埋层2、薄硅膜层3、台阶型栅氧化层4和台阶型栅多晶硅层5,薄硅膜层有外围局部场氧化区34、中间P型井区31和N+型源区32、N+型漏区33。本实用新型解决了NMOSFET在材料、工艺、可靠性、可重复性、生产成本、反向击穿电压等诸多问题。

著录项

  • 公开/公告号CN2708506Y

    专利类型

  • 公开/公告日2005-07-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江苏长电科技股份有限公司;

    申请/专利号CN200420027819.9

  • 发明设计人 王新潮;廖小平;

    申请日2004-06-08

  • 分类号H01L29/78;

  • 代理机构江阴市同盛专利事务所;

  • 代理人唐纫兰

  • 地址 214431 江苏省江阴市滨江中路275号

  • 入库时间 2022-08-21 22:48:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2007-05-09

    其他有关事项避免重复授权放弃专利权 放弃生效日:20040608 申请日:20040608

    其他有关事项避免重复授权放弃专利权

  • 2005-07-06

    授权

    授权

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